SJ/T 10805-2018由工业和信息化部 发布于 2018-02-09,并于 2018-04-01 实施。
SJ/T 10805-2018 在中国标准分类中归属于: L55 微电路综合。
SJ/T 10805-2018 半导体集成电路 电压比较器测试方法的最新版本是哪一版?
最新版本是 SJ/T 10805-2018 。
-发射极电压:0V or VGSmin高温栅极反偏(HTGB)1.试验时长:≥1000h2.试验温度:最高结温3.集电极-发射极电压:0V4.栅极电压:VGE=VGE, max (正栅极电压测量50%DUT)VGE=VGE, min (负栅极电压测量50%DUT)测试方案和案例广电计量在Si基功率半导体模块、SiC模块等相关测试有着丰富的实战经验,为众多半导体厂家提供模块的规格书参数测试、竞品分析、...
探针台主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。 广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发,旨在确保质量及可靠性,并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。 手动探针台的主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台,探针台可吸附多种规格芯片,并提供多个可调测试针以及探针座,配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测。...
1、分立器件 (1)双极型晶体(BipolarTransistor),一般简称三极管,bjt (2)场效应晶体管(FieldEffectiveTransistor) (3)晶闸管(Thyristor),也叫可控硅 (4)半导体电阻与——用集成技术制造的电阻和电容,用于集成电路中 2、模拟集成电路器件 模拟集成电路器件是用来处理随时间连续变化的模拟电压或电流信号的集成电路器件...
探针台主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。 广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发,旨在确保质量及可靠性,并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。手动探针台的主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台,探针台可吸附多种规格芯片,并提供多个可调测试针以及探针座,配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测。...
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