将电子束聚焦到样品上﹐不但能观察20~30A的组织形貌细节﹐并可以从X射线能谱分析及电子能量损失谱中得出这么微小区域的化学成分﹐从微区电子衍射得到它的晶体结构数据﹐这是近几年来电子显微学中发展较快的领域﹐称为分析电子显微学(analytical electron microscopy﹐简写为AEM)。 ...
邮件:hlyao@mail.sic.ac.cn三、FEI Tecnai G2 F20场发射透射电子显微镜 仪器参数: 加速电压:200kV 高分辨极靴 (S-TWIN) 点分辨率:0.24nm;线分辨率:0.14nm STEM (HAADF)分辨率:0.19nm 电子束能量色散:100nA;1nm束斑最大束流:>0.5nA 样品最大倾斜角:?...
同时通过在电子枪上结合使用300kV的高加速电压,实现了高稳定性。作为一种分析电镜,除配置能量色散型X射线分析装置(EDX)和电子能量损失谱仪(EELS)外,还支持电子束全息摄影、位置分析型EELS及纳米电子束衍射等新分析方法。 HF-3300型新型场发射型透射式电子显微镜(FE-TEM) 透射式电子显微镜的加速电压越高,分辨率和透射力就越出色。...
二、扫描电子显微镜 SEM扫描电镜的应用较为普遍,扫描电子显微镜原理是:通过光栅扫描技术来产生标本的放大图像。它引导聚焦的电子束穿过样品的矩形区域,当电子束通过时会产生能量损失。该能量会被转换成热、光、二次电子等能量同时反向散射电子。此时通过软件系统进行翻译转换后得到清晰的标本图像信息。从成像原理分析,扫描电子显微镜的分辨率会比透射电子显微镜的分辨率稍差。...
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