XP ISO/TS 24597:2011
微束分析 - 扫描电子显微镜 - 评估图像清晰度的方法

Analyse par microfaisceaux - Microscopie électronique à balayage - Méthodes d'évaluation de la netteté d'image


 

 

非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 XP ISO/TS 24597:2011 前三页,或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准,
点击右侧 “购买” 按钮开始采购(由第三方提供)。

点击下载后,生成下载文件时间比较长,请耐心等待......

 

标准号
XP ISO/TS 24597:2011
发布
2011年
发布单位
法国标准化协会
当前最新
XP ISO/TS 24597:2011
 
 

XP ISO/TS 24597:2011相似标准


推荐

扫描电子显微镜技术原理及应用

近 20 年来,扫描电子显微镜发展迅速,多功能分析扫描电镜(即扫描电镜带上能谱仪、波谱仪、荧光仪等)既能做超微结构研究,又能做超微结构分析,既能做定性、定量分析、又能做定位分析,具有景深大,图像富有立体感,分辨率高,图像放大倍数高,显像直观,样品制备过程相对简单,可连接EDAX(X-射线能谱分析仪)进行区成分分析等特点,被广泛应用于生物学、医学、古生物学、地质学、化学、物理、电子学及林业等学科和领域...

SEM系列专题|优化扫描电镜景深

这意味着与焦平面的微小偏差将导致电子直径不断增大,从而使得图像更加模糊。反之,样品距离镜筒越远,电子角度越小,与焦平面高度偏差所导致电子直径变化也就越小,因此,可以清晰地观察到不同高度处所有特征物。通常,扫描电子显微镜景深可以从几微米增加到几毫米,通过调整景深,可以对需要重点关注特征进行深入观察,获得高质量图像从而取得最佳分析结果。...

扫描电镜参数调整

在我们日常材料分析研究中,扫描电子显微镜是最常用仪器之一。相对于普通光学显微镜,电子显微镜具有分辨率高,放大倍率宽,图像景深好,样品制备简单等特点,在生物,材料,环境等学科中有着广泛应用。一、扫描电镜基本结构扫描电镜,左面为镜筒和样品室,右面室是成像和记录系统,两部分是由同步扫描发生器和信号探测器连接在一起。其结构由下图所示:扫描电镜成像如同电视机一样,利用电子扫描功能实现。...

四大显微设备SEM、TEM、AFM、STM工作原理汇总

SEM是采用逐点成像方法,把样品表面不同特征,按顺序和比例转化为图像,如二次电子像背散射电子像等扫描电镜优点是:(1)有较高放大倍数;(2)有很大景深,视野大,成像富有立体感(3)试样制备简单。02.透射电子显微镜(TEM)TEM是聚焦电子投射到非常薄样品上,透过样品透射电子或衍射电子所形成图像分析样品内部微观组织结构。...





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号