XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011
微束分析 扫描电子显微镜 评价图像清晰度的方法

Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Methods of evaluating image sharpness


 

 

非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 前三页,或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准,
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购(由第三方提供)。

 

标准号
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011
发布
2011年
发布单位
法国标准化协会
当前最新
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011
 
 

XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011相似标准


推荐

扫描电子显微镜技术原理及应用

近 20 年来,扫描电子显微镜发展迅速,多功能分析扫描电镜(即扫描电镜带上能谱仪、波谱仪、荧光仪等)既能做超微结构研究,又能做超微结构分析,既能做定性、定量分析、又能做定位分析,具有景深大,图像富有立体感,分辨率高,图像放大倍数高,显像直观,样品制备过程相对简单,可连接EDAX(X-射线能谱分析仪)进行区成分分析等特点,被广泛应用于生物学、医学、古生物学、地质学、化学、物理、电子学及林业等学科和领域...

扫描电镜参数调整

在我们日常材料分析研究中,扫描电子显微镜是最常用仪器之一。相对于普通光学显微镜,电子显微镜具有分辨率高,放大倍率宽,图像景深好,样品制备简单等特点,在生物,材料,环境等学科中有着广泛应用。一、扫描电镜基本结构扫描电镜,左面为镜筒和样品室,右面室是成像和记录系统,两部分是由同步扫描发生器和信号探测器连接在一起。其结构由下图所示:扫描电镜成像如同电视机一样,利用电子扫描功能实现。...

XRD与EDS有什么区别

SEM,EDS,XRD区别,SEM是扫描电镜,EDS是扫描电镜上配搭一个用于分析成分配件——能谱仪,是用来对材料区成分元素种类与含量分析,配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜使用。XRD是X射线衍射仪,是用于物相分析检测设备。...

扫描电子显微镜是利用聚焦很窄高能电子扫描...

新式扫描电子显微镜分辨率可以达到1nm;放大倍数可以达到30万倍及以上连续可调;并且景深大,视野大,成像立体效果好。此外,扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合,可以做到观察微观形貌同时进行物质区成分分析扫描电子显微镜在岩土、石墨、陶瓷及纳米材料等研究上有广泛应用。因此扫描电子显微镜在科学研究领域具有重大作用。  ...


XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号