原子力显微镜(Atomic Force Microscope)是继扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscope)之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器,可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测,或者直接进行纳米操纵;现已广泛应用于半导体、纳米功能材料、生物、化工、食品、医药研究和科研院所各种纳米相关学科的研究实验等领域中,成为纳米科学研究的基本工具...
近期,扫描隧道显微镜中ESR的实现为这一目标提供了可能,其可以对相干振荡进行演示,并获得具有实际空间原子分辨率的核自旋。然而,该方法固有的基于电流的传感限制了相干时间。 ...
二、原子力显微镜(AFM) 原子力显微镜的工作原理是利用对微弱力极其敏感、顶端带有针尖的做悬臂对样品表面进行逐行扫描,针尖最外层原子与样品表面原子之间的相互作用力使微悬臂发生形或改变运动状态,通过检测微悬臂的偏转获得样品形貌和作用力等相关信息供计算机成像。原子力显微镜成像的模式包括了接触模式和间歇接触模式。...
二、原子力显微镜(AFM) 原子力显微镜的工作原理是利用对微弱力极其敏感、顶端带有针尖的做悬臂对样品表面进行逐行扫描,针尖最外层原子与样品表面原子之间的相互作用力使微悬臂发生形或改变运动状态,通过检测微悬臂的偏转获得样品形貌和作用力等相关信息供计算机成像。原子力显微镜成像的模式包括了接触模式和间歇接触模式。 ...
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