ASTM E2382-04
扫描隧道显微镜学和原子力显微镜学中扫描器和与触点相关物品的指南

Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy

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标准号

ASTM E2382-04

发布

2004年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM E2382-04(2012)

当前最新

ASTM E2382-04(2020)

 

 

适用范围

1.1 所有显微镜都会受到伪影的影响。本文件的目的是描述扫描隧道显微镜 (STM) 和原子力显微镜 (AFM) 中常见的与探针运动以及针尖和表面相互作用的几何考虑有关的伪影，提供示例的文献参考，其中可能的话，对文物的来源提供解释。由于扫描探针显微镜领域是一个新兴领域，因此本文件并不意味着全面，而是为显微镜工作者提供指导，帮助他们了解可能遇到的陷阱。识别伪影的能力应有助于可靠地评估仪器操作和报告数据。
1.2 此处将定义一组有限的术语。与 STM 和 AFM 仪器的描述、操作和校准相关的术语的完整描述超出了本文档的范围。

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