原子力显微镜(Atomic Force Microscopy, AFM)是继扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscopy, STM)之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器,可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测。本标准文本将概述纳米粒子的原子力显微镜样品制备,以及纳米粒子尺寸的原子力显微镜法测量。...
原子力显微镜测量粒子直径范围为1nm~8mm。 此外,透射电镜法与原子力显微镜法测定纳米粒子的粒径的准确性与纳米粒子的分散性,观察者本身的局限性有关。一些团聚体可能被误认为一次颗粒,影响了测量准确性。所以,透射电镜法和原子力显微镜法的粒径测量值有可能会大于实际粒径值。 X 射线衍射法、透射电子显微镜法、原子力显微镜法三种测量方法都有自身特点,没有一种方法是能够适用于所有情况的通用方法。...
原子力显微镜测量粒子直径范围约为0.1nm~数十纳米。 此外,透射电镜法与原子力显微镜法测定纳米粒子的粒径的准确性与纳米粒子的分散性,观察者本身的局限性有关。一些团聚体可能被误认为一次颗粒,影响了测量准确性。所以,透射电镜法和原子力显微镜法的粒径测量值有可能会大于实际粒径值。...
在不同规模的物理,化学和生物过程中,中性和可极化原子、分子或粒子之间的范德华相互作用无处不在。然而,这些力的直接测量通常涉及各种复杂的纳米技术,这些技术难以扩展到复杂的多原子系统研究中。纳米级通道中的主客体范德华相互作用将决定分子内限域的各种物理和化学行为,例如吸附,传输,催化和相变,通过当前方法,在单分子水平研究这些相互作用非常困难。 ...
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