ASTM E2859-11(2023)
使用原子力显微镜测量纳米粒子尺寸的标准指南

Standard Guide for Size Measurement of Nanoparticles Using Atomic Force Microscopy


ASTM E2859-11(2023) 中,可能用到以下仪器设备

 

大视野单分子超分辨模块-SAFe180

大视野单分子超分辨模块-SAFe180

QUANTUM量子科学仪器贸易(北京)有限公司

 

徕卡 共聚焦显微镜 Leica TCS SP8 STED 3X 超高分辨率

徕卡 共聚焦显微镜 Leica TCS SP8 STED 3X 超高分辨率

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

标准号
ASTM E2859-11(2023)
发布
2023年
发布单位
美国材料与试验协会
当前最新
ASTM E2859-11(2023)
 
 
1.1 本文件的目的是为原子力显微镜 (AFM) 的定量应用提供指导,以使用高度(z 位移)测量来确定以干燥形式沉积在平坦基底上的纳米粒子2的尺寸。与提供样品的二维投影或二维图像的电子显微镜不同,AFM 提供三维表面轮廓。虽然横向尺寸受到探针形状的影响,但位移测量可以提供高精度的纳米颗粒高度。如果假设颗粒是球形的,则高度测量值对应于颗粒的直径。在本指南中,描...

ASTM E2859-11(2023)相似标准


推荐

原子显微镜测量纳米粒子尺寸

原子显微镜(Atomic Force Microscopy, AFM)是继扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscopy, STM)之后发明一种具有原子级高分辨新型仪器,可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域物理性质包括形貌进行探测。本标准文本将概述纳米粒子原子显微镜样品制备,以及纳米粒子尺寸原子显微镜测量。...

XRD和TEM在样品物象上表征区别

原子显微镜测量粒子直径范围为1nm~8mm。  此外,透射电镜法与原子显微镜法测定纳米粒子粒径准确性与纳米粒子分散性,观察者本身局限性有关。一些团聚体可能被误认为一次颗粒,影响了测量准确性。所以,透射电镜法和原子显微镜粒径测量值有可能会大于实际粒径值。  X 射线衍射法、透射电子显微镜法、原子显微镜法三种测量方法都有自身特点,没有一种方法是能够适用于所有情况通用方法。...

学术干货丨XRD、TEM、AFM表征粒径方式及异同

原子显微镜测量粒子直径范围约为0.1nm~数十纳米。此外,透射电镜法与原子显微镜法测定纳米粒子粒径准确性与纳米粒子分散性,观察者本身局限性有关。一些团聚体可能被误认为一次颗粒,影响了测量准确性。所以,透射电镜法和原子显微镜粒径测量值有可能会大于实际粒径值。...

XRD、TEM、AFM表征粒径方式及异同

原子显微镜测量粒子直径范围约为0.1nm~数十纳米。  此外,透射电镜法与原子显微镜法测定纳米粒子粒径准确性与纳米粒子分散性,观察者本身局限性有关。一些团聚体可能被误认为一次颗粒,影响了测量准确性。所以,透射电镜法和原子显微镜粒径测量值有可能会大于实际粒径值。...


ASTM E2859-11(2023) 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号