YS/T 1600-2023
碳化硅单晶中痕量杂质元素含量的测定辉光放电质谱法

Determination of trace impurity elements in silicon carbide single crystal —Glow discharge mass spectrometry

YST1600-2023, YS1600-2023

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YS/T 1600-2023 发布历史

YS/T 1600-2023由行业标准-有色金属 CN-YS 发布于 2023-05-22，并于 2023-11-01 实施。

YS/T 1600-2023 在中国标准分类中归属于: H17 半金属及半导体材料分析方法，在国际标准分类中归属于: 77.040.30 金属材料化学分析。

YS/T 1600-2023 碳化硅单晶中痕量杂质元素含量的测定辉光放电质谱法的最新版本是哪一版？

最新版本是 YS/T 1600-2023 。

YS/T 1600-2023的历代版本如下：

2023年 YS/T 1600-2023 碳化硅单晶中痕量杂质元素含量的测定辉光放电质谱法

标准号: YS/T 1600-2023
别名: YST1600-2023
YS1600-2023
发布: 2023年
发布单位: 行业标准-有色金属
当前最新: YS/T 1600-2023

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YS/T 1600-2023碳化硅单晶中痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法