IEC 60748-2/AMD1:1991
半导体器件.集成电路.第2部分:数字集成电路.第1次修改

Semiconductor devices; integrated circuits; part 2: digital integrated circuits; amendment 1


 

 

非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 IEC 60748-2/AMD1:1991 前三页,或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准,
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购(由第三方提供)。

 

标准号
IEC 60748-2/AMD1:1991
发布
1991年
发布单位
国际电工委员会
替代标准
IEC 60748-2:1985/AMD2:1993
当前最新
IEC 60748-2:1997
 
 

IEC 60748-2/AMD1:1991相似标准


推荐

29个半导体国家标准即将实施,12月1日有12个国标开始实施!

国家标准《半导体器件 16-5部分:微波集成电路 振荡器》 由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口,TC78SC2(全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会)执行 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。  ...

一文看懂半导体圈那些事儿

● 主要材料元素半导体:锗和硅是最常用的元素半导体;化合物半导体:包括Ⅲ和Ⅴ族化合物(砷化镓、磷化镓等)、Ⅱ和Ⅵ族化合物(硫化镉、硫化锌等)、氧化物(锰、铬、铁、铜的氧化物),以及由Ⅲ-Ⅴ族化合物和Ⅱ-Ⅵ族化合物组成的固溶体(镓铝砷、镓砷磷等)。● 技术科研领域:集成电路:它是半导体技术发展中最活跃的一个领域,已发展到大规模集成的阶段。...

News丨TESCAN出席24届国际集成电路物理与失效分析盛会(IPFA2017)

24届国际集成电路物理与失效分析研讨会半导体行业的目标是更高集成度、更高密度和更微型逻辑器件的制造,然而,更复杂的集成电路需要更为复杂的研究和分析工具,而扫描电子显微镜(SEM)和聚焦离子束(FIB)技术的结合解决了半导体行业在芯片设计及加工过程、加工效率等方面的疑难问题,在芯片电路修改、截面分析、透射样品制备、材料鉴定等方面被广泛应用,是半导体行业研究和分析的理想工具。...

废止《光学纤维面板测试方法》等265项国家标准

等离子体显示器件 2-1部分:光学参数测量方法废止公告即废止13GB/T 14129-1993半导体集成电路TTL电路系列和品种  PAL系列的品种废止公告后3个月废止14GB/T 15136-1994半导体集成电路石英钟表电路测试方法的基本原理废止公告后3个月废止15GB/T 19954.1-2016电磁兼容  专业用途的音频、视频、音视频和娱乐场所灯光控制设备的产品类标准  1部分:发射废止公告后...





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号