适用于表面质量评级的规定包括:1、ANSI/OEOSC OP1.002-2009,针对光学和电光仪器 – 光学元素和组件 – 外观缺陷*2、ISO10110-7:2008,光学和光电- 适用于光学元件和系统的制图 - 第7部分:表面缺陷公差*3、ISO14997:2003;光学和光学仪器 - 用于检测光学元件表面缺陷的方法4、MIL-PRF-13830B;管理火控仪器光学组件的制造、组装和检测的一般规格...
6.检测:超声波探伤仪器、电磁(涡流)检测仪器、磁粉探伤仪器、射线探伤仪器、渗透检验仪器、泄露检测仪器、声成像与声全息设备等;7.光学仪器及设备 :扫描电子显微镜、透射电子显微镜、扫描探针显微镜、原子力显微镜、电子显微镜、光学显微镜、金相显微镜、光学测量仪器、光学实验设备、光学成像设备、光学图像处理及仪器与设备等8.分析与检测仪器:光罩缺陷检测、封装检测、表面分析仪器、粗糙度仪、扫描电子显微镜、薄膜厚度测量系统...
6.检测:超声波探伤仪器、电磁(涡流)检测仪器、磁粉探伤仪器、射线探伤仪器、渗透检验仪器、泄露检测仪器、声成像与声全息设备等;7.光学仪器及设备 :扫描电子显微镜、透射电子显微镜、扫描探针显微镜、原子力显微镜、电子显微镜、光学显微镜、金相显微镜、光学测量仪器、光学实验设备、光学成像设备、光学图像处理及仪器与设备等8.分析与检测仪器:光罩缺陷检测、封装检测、表面分析仪器、粗糙度仪、扫描电子显微镜、薄膜厚度测量系统...
6.检测:超声波探伤仪器、电磁(涡流)检测仪器、磁粉探伤仪器、射线探伤仪器、渗透检验仪器、泄露检测仪器、声成像与声全息设备等;7.光学仪器及设备 :扫描电子显微镜、透射电子显微镜、扫描探针显微镜、原子力显微镜、电子显微镜、光学显微镜、金相显微镜、光学测量仪器、光学实验设备、光学成像设备、光学图像处理及仪器与设备等8.分析与检测仪器:光罩缺陷检测、封装检测、表面分析仪器、粗糙度仪、扫描电子显微镜、薄膜厚度测量系统...
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