GB/T 6798-1996
半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理

Semiconductor integrated circuits. General principles of measuring methods of voltage comparators


GB/T 6798-1996 发布历史

本标准规定了半导体集成电路电压比较器(以下简称器件)电特性测试方法的基本原理。 本标准适用于半导体集成电路电压比较器电特性的测试。

GB/T 6798-1996由国家质检总局 CN-GB 发布于 1996-07-09,并于 1997-01-01 实施。

GB/T 6798-1996 在中国标准分类中归属于: L56 半导体集成电路,在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。

GB/T 6798-1996的历代版本如下:

  • 1996年07月09日 GB/T 6798-1996 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理

 

 

非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 GB/T 6798-1996 前三页,或者稍后再访问。

点击下载后,生成下载文件时间比较长,请耐心等待......

 



标准号
GB/T 6798-1996
发布日期
1996年07月09日
实施日期
1997年01月01日
废止日期
中国标准分类号
L56
国际标准分类号
31.200
发布单位
CN-GB
被代替标准
GB 6798-1986
适用范围
本标准规定了半导体集成电路电压比较器(以下简称器件)电特性测试方法的基本原理。 本标准适用于半导体集成电路电压比较器电特性的测试。




Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号