找不到引用JIS H 0612:1975 的标准
多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量 仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、 GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。 仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台等部分组成。...
四探针法测试台设计符合符合GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正材料》中关于粉末电阻率测试的原理和规范，参照GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M 标准。 四探针法同步压力连续测试粉末“电阻率-压强曲线，” 国内*，行业，行业推荐粉末电阻率标准测试方式。 ...
序号标准编号标准名称代替标准号实施日期1GB/T 1551-2021硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法GB/T 1551-20092021-12-012GB/T 2423.18-2021环境试验 第2部分：试验方法 试验Kb：盐雾，交变（氯化钠溶液）GB/T 2423.18-20122021-12-013GB/T 2423.33-2021环境试验 第2部分：试验方法 试验Kca：高浓度二氧化硫试验...
测量范围宽广测试仪可直接测量： a、研磨或切割面：电阻率≥0.5Ω?cm的单晶硅棒、定向结晶多晶硅块少子体寿命，切割片的少子相对寿命。 b、抛光面：电阻率在0.5～0.01Ω?cm范围内的硅单晶、锗单晶抛光片。...
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