ISO 3274:1975
表面粗糙度轮廓法测量仪.连续轮廓转换触针轮廓仪.M系统轮廓触点仪

Instruments for the measurement of surface roughness by the profile method; Contact (stylus) instruments of consecutive profile transformation; Contact profile meters, system M


ISO 3274:1975 发布历史

ISO 3274:1975由国际标准化组织 IX-ISO 发布于 1975-07。

ISO 3274:1975 在中国标准分类中归属于: J42 量具与量仪。

ISO 3274:1975 表面粗糙度轮廓法测量仪.连续轮廓转换触针轮廓仪.M系统轮廓触点仪的最新版本是哪一版?

最新版本是 ISO 3274:1996/cor 1:1998

ISO 3274:1975的历代版本如下:

  • 1998年 ISO 3274:1996/cor 1:1998 产品几何量技术规范(GPS) 表面结构:轮廓法 接触(触针)式仪器的标称特性 技术勘误1
  • 1996年 ISO 3274:1996 产品几何量技术规范(GPS) 表面结构:轮廓法 接触(触针)式仪器的标称特性
  • 1975年 ISO 3274:1975 表面粗糙度轮廓法测量仪.连续轮廓转换触针轮廓仪.M系统轮廓触点仪

 

标准号
ISO 3274:1975
发布
1975年
发布单位
国际标准化组织
替代标准
ISO 3274:1996
当前最新
ISO 3274:1996/cor 1:1998
 
 

ISO 3274:1975相似标准


推荐

泰勒粗糙度的原理

糙度的原理粗糙度的原理:测量工件表面粗糙度时,将传感器放在工件被测表面上,由仪器内部的驱动机构带动传感器沿被测表面做等速滑行,传感器通过内置的锐利感受被测表面粗糙度,此时工件被测表面粗糙度引起产生位移,该位移使传感器电感线圈的电感量发生变化,从而在相敏整流器的输出端产生与被测表面粗糙度成比例的模拟信号,该信号经过放大及电平转换之后进入数据采集系统,DSP芯片将采集的数据进行数字滤波和参数计算...

粗糙度相关知识

粗糙度测量原理  测量工件表面粗糙度时,将传感器放在工件被测表面上,由仪器内部的驱动机构带动传感器沿被测表面做等速滑行,传感器通过内置的锐利感受被测表面粗糙度,此时工件被测表面粗糙度引起产生位移,该位移使传感器电感线圈的电感量发生变化,从而在相敏整流器的输出端产生与被测表面粗糙度成比例的模拟信号,该信号经过放大及电平转换之后进入数据采集系统,DSP芯片将采集的数据进行数字滤波和参数计算...

粗糙度详细资料

[编辑本段]粗糙度测量原理  测量工件表面粗糙度时,将传感器放在工件被测表面上,由仪器内部的驱动机构带动传感器沿被测表面做等速滑行,传感器通过内置的锐利感受被测表面粗糙度,此时工件被测表面粗糙度引起产生位移,该位移使传感器电感线圈的电感量发生变化,从而在相敏整流器的输出端产生与被测表面粗糙度成比例的模拟信号,该信号经过放大及电平转换之后进入数据采集系统,DSP芯片将采集的数据进行数字滤波和参数计算...

如何测量表面粗糙度

针法利用针尖曲率半径为2微米左右的金刚石沿被测表面缓慢滑行,金刚石的上下位移量由电学式长度传感器转换为电信号,经放大、滤波、计算后由显示仪表指示出表面粗糙度数值,也可用记录器记录被测截面轮廓曲线。一般将仅能显示表面粗糙度数值的测量工具称为表面粗糙度测量仪,同时能记录表面轮廓曲线的称为表面粗糙度轮廓仪。...


ISO 3274:1975 中可能用到的仪器设备


谁引用了ISO 3274:1975 更多引用





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号