ISO 3274:1975
表面粗糙度轮廓法测量仪.连续轮廓转换触针轮廓仪.M系统轮廓触点仪

Instruments for the measurement of surface roughness by the profile method; Contact (stylus) instruments of consecutive profile transformation; Contact profile meters, system M


ISO 3274:1975 中,可能用到以下仪器设备

 

Profilm 3D光学轮廓仪

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优尼康科技有限公司

 

高精度粗糙度轮廓仪GS220

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

基恩士LJ-V7000系列超高速轮廓测量仪

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基恩士(中国)有限公司

 

基恩士 3D轮廓测量仪 VR-6000系列

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光电轮廓仪

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2D/3D 线激光测量仪  LJ-X8000 系列

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基恩士(中国)有限公司

 

单纤维轮廓仪

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北京中仪科信科技有限公司

 

标准号
ISO 3274:1975
发布
1975年
发布单位
国际标准化组织
替代标准
ISO 3274:1996
当前最新
ISO 3274:1996/cor 1:1998
 
 

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ISO 3274:1975 中可能用到的仪器设备


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