GB/T 4326-2006
非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient
GBT4326-2006, GB4326-2006
GB/T 4326-2006 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- GB/T 4326-2006
- 别名
- GBT4326-2006
GB4326-2006 - 发布
- 2006年
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 4326-2006
- 被代替标准
- GB/T 4326-1984
- 本标准规定的测量方法适用于测量非本征半导体单晶材料的霍尔系数、载流子霍尔迁移率、电阻率和载流子浓度。 本标准规定的测量方法仅在有限的范围内对锗、硅、砷化镓和磷化镓单晶材料进行了实验室测量，但该方法也可适用于其他半导体单晶材料，一般情况下，适用于室温电阻率高达104Ω•cm半导体单晶材料的测试。
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