JJF 1179-2007
集成电路高温动态老化系统校准规范
Calibration Specification of High Temperature Dynamic IC Burn-in System
JJF 1179-2007 发布历史
本规范适用于集成电路高温动态老化系统的校准。
JJF 1179-2007由国家计量技术规范 CN-JJF 发布于 2007-06-14，并于 2007-09-14 实施。
JJF 1179-2007 在中国标准分类中归属于: L56 半导体集成电路，在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。
JJF 1179-2007 发布之时，引用了标准
- GB/T 5170.1-1995 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 总则
- GB/T 5170.2-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 温度试验设备
JJF 1179-2007的历代版本如下：
- 2007年06月14日 JJF 1179-2007 集成电路高温动态老化系统校准规范
- 标准号
- JJF 1179-2007
- 发布日期
- 2007年06月14日
- 实施日期
- 2007年09月14日
- 废止日期
- 无
- 中国标准分类号
- L56
- 国际标准分类号
- 31.200
- 发布单位
- CN-JJF
- 引用标准
- GB/T 5170.1-1995 GB/T 5170.2-1996
- 适用范围
- 本规范适用于集成电路高温动态老化系统的校准。