JEDEC JESD4-1983
晶体闸流管和整流二极管的分离半导体封装的外部清洁度和漏电距离的定义

Definition of External Clearance and Creepage Distances of Discrete Semiconductor Packages for Thyristors and Rectifier Diodes

JEDEC JESD4-1983 发布历史

This Standard defines reference distances for the external package. It specifically exchdes transistors, nonhermetic devices (leak rate > 1 x IO4 standard cubic centimeter/second) and assemblies of semiconductor devices such as thyristors and rectifier diodes.

JEDEC JESD4-1983由(美国)固态技术协会,隶属EIA US-JEDEC 发布于 1983。

JEDEC JESD4-1983 在中国标准分类中归属于: L41 半导体二极管，在国际标准分类中归属于: 31.080.10 二极管。

JEDEC JESD4-1983的历代版本如下：

• 1983年 JEDEC JESD4-1983 晶体闸流管和整流二极管的分离半导体封装的外部清洁度和漏电距离的定义

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标准号

JEDEC JESD4-1983

发布日期

1983年

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L41

国际标准分类号

31.080.10

发布单位

US-JEDEC

适用范围

This Standard defines reference distances for the external package. It specifically exchdes transistors, nonhermetic devices (leak rate > 1 x IO4 standard cubic centimeter/second) and assemblies of semiconductor devices such as thyristors and rectifier diodes.