GB/T 11094-2007
水平法砷化镓单晶及切割片

Horizontal bridgman grown gallium arsenide single crystal and cutting wafer

GBT11094-2007, GB11094-2007

2021-08

GB/T 11094-2007 中,可能用到以下仪器

 

EVG 301  Single Wafer Cleaning System单晶圆清洗系统

EVG 301 Single Wafer Cleaning System单晶圆清洗系统

北京亚科晨旭科技有限公司

 

GB/T 11094-2007

标准号
GB/T 11094-2007
别名
GBT11094-2007
GB11094-2007
发布
2007年
发布单位
国家质检总局
替代标准
GB/T 11094-2020
当前最新
GB/T 11094-2020
 
 
引用标准
GB/T 14264 GB/T 1555 GB/T 2828.1 GB/T 4326 GB/T 8760 GJB 1927
被代替标准
GB/T 11094-1989
本标准规定了水平法砷化镓单晶、单晶锭及切割片的要求、试验方法及检验规则等。 本标准适用于水平法砷化镓单晶、单晶锭及切割片,产品主要用于光电器件、微波器件和传感元件等的制作。

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GB/T 11094-2007 中可能用到的仪器设备





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