GB/T 11094-2007
水平法砷化镓单晶及切割片

Horizontal bridgman grown gallium arsenide single crystal and cutting wafer

GBT11094-2007, GB11094-2007

2021-08

GB/T 11094-2007 发布历史

GB/T 11094-2007由国家质检总局 CN-GB 发布于 2007-09-11,并于 2008-02-01 实施,于 2021-08-01 废止。

GB/T 11094-2007 在中国标准分类中归属于: H83 化合物半导体材料,在国际标准分类中归属于: 29.045 半导体材料。

GB/T 11094-2007 水平法砷化镓单晶及切割片的最新版本是哪一版?

最新版本是 GB/T 11094-2020

GB/T 11094-2007 发布之时,引用了标准

  • GB/T 14264 半导体材料术语*2009-10-30 更新
  • GB/T 1555 半导体单晶晶向测定方法*2023-08-06 更新
  • GB/T 2828.1 计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划*2013-02-15 更新
  • GB/T 4326 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
  • GB/T 8760 砷化镓单晶位错密度的测试方法*2020-09-29 更新
  • GJB 1927 砷化镓单晶材料测试方法

* 在 GB/T 11094-2007 发布之后有更新,请注意新发布标准的变化。

GB/T 11094-2007的历代版本如下:

 

本标准规定了水平法砷化镓单晶、单晶锭及切割片的要求、试验方法及检验规则等。 本标准适用于水平法砷化镓单晶、单晶锭及切割片,产品主要用于光电器件、微波器件和传感元件等的制作。

GB/T 11094-2007

标准号
GB/T 11094-2007
别名
GBT11094-2007
GB11094-2007
发布
2007年
发布单位
国家质检总局
替代标准
GB/T 11094-2020
当前最新
GB/T 11094-2020
 
 
引用标准
GB/T 14264 GB/T 1555 GB/T 2828.1 GB/T 4326 GB/T 8760 GJB 1927
被代替标准
GB/T 11094-1989

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