IS 12737-1988
半导体 X 射线能量光谱仪的标准测试程序

Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers

半导体 X 射线能量光谱仪的标准测试程序 不是强制性中国国家标准，您可以免费下载预览页

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标准号: IS 12737-1988
发布: 1990年
发布单位: IN-BIS
当前最新: IS 12737-1988

适用范围: 本标准提出了半导体 X 射线能谱仪的标准测试程序。此类系统由半导体辐射探测器组件和与脉冲高度分析仪/计算机连接的信号处理电子设备组成。本标准不包括脉冲高度分析仪和计算机的测试程序。第 5 条本质上是教程。

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