5.分析方法参考标准 ASTM E1078-2009 表面分析中试样制备和安装程序的标准指南 ASTM E1504-2011 次级离子质谱(SIMS)测定中质谱数据报告的标准规范 ASTM E1829-2009 先于表面分析的样品处置标准指南 ...
质谱图像的产生需要对这些产生的离子进行后续质量分析。现代质谱方法提供了一系列质量分析仪器来达到此目的。本文介绍三种类型的质量分析仪器,为生物表面的MALDI或SIMS质谱成像提供独特的分析能力。 1、飞行时间成像质谱法 IMS中最常用的质量分析器是飞行时间分析仪。它需要产生脉冲离子,这一要求理想地与MALDI和SIMS要求兼容。所有离子都具有相同的加速电位。...
根据二次离子质谱法的特点是测试低含量(优于ppm水平)的杂质浓度,所以要求样品分析面必须进行抛光以除去表面沾污,粗糙度Ra=2nm时基本表面沾污都能去除了,但表面粗糙度越小,SIMS深度剖析的深度分辨率越高,所以规定粗糙度Ra≤2nm。...
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