ASTM E673-03
与表面分析相关的标准术语
Standard Terminology Relating to Surface Analysis
2012-01
- 标准号
- ASTM E673-03
- 发布
- 2003年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 当前最新
- ASTM E673-03
- 适用范围
- 1.1 该术语与表面分析涉及的各个学科相关。
1.2 列出的定义适用于 (a) 俄歇电子能谱 (AES)、(b) X 射线光电子能谱 (XPS)、(c) 离子散射能谱 ( ISS）、（d）二次离子质谱（SIMS）和（e）高能离子分析（EIA）。
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