ASTM D5796-03
用钻孔装置破坏性测量薄膜盘绕覆层系统的干膜厚度的标准试验方法

Standard Test Method for Measurement of Dry Film Thickness of Thin Film Coil-Coated Systems by Destructive Means Using a Boring Device

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标准号: ASTM D5796-03
发布: 2003年
发布单位: 美国材料与试验协会
替代标准: ASTM D5796-03(2010)
当前最新: ASTM D5796-20

通过物理切割薄膜并光学观察和测量厚度来测量有机涂层的干膜厚度，与非破坏性方法相比具有直接测量的优点。涂层系统的总厚度的组成涂层通常可以通过该测试方法单独测量，只要各层之间的粘附力足够。（然而，当底漆、面漆或多个涂层具有相同或非常相似的外观时，这可能会很困难。） 1.1 本测试方法涵盖通过显微镜观察测量涂膜的干膜厚度（DFT）在涂膜上钻出一个精密切割的浅角度...

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