ASTM F1996-06
薄膜开关电路系统银迁移的标准试验方法

Standard Test Method for Silver Migration for Membrane Switch Circuitry

被代替

薄膜开关电路系统银迁移的标准试验方法 是非强制性国家标准，您可以免费下载预览页

哪些标准引用了ASTM F1996-06

ASTM F3147-15 采用旋转芯轴弯曲评估柔性电路上表面安装设备 (SMD) 连接可靠性的标准试验方法 UL SUBJECT 2557-2008 膜片开关调查大纲.发布编号:1 ASTM F2114-02 薄膜开关的ASTM标准试验方法、标准实施规范和典型值的标准指南

标准号: ASTM F1996-06
发布: 2006年
发布单位: 美国材料与试验协会
替代标准: ASTM F1996-14
当前最新: ASTM F1996-14

银迁移的影响是短路或绝缘电阻降低。这可以通过阴极和阳极导电迹线之间的染色或变色来证明。加速测试可以通过将电压增加到指定电压以上来完成。（典型的起始点为 5Vdc 50mA）。 1.1 本测试方法用于确定薄膜开关在直流电压下对电路走线之间银迁移的敏感性。 1.2 当特殊的湿度和湿度条件下会发生银迁移。存在电能。

ASTM F1996-06薄膜开关电路系统银迁移的标准试验方法

Standard Test Method for Silver Migration for Membrane Switch Circuitry

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