ASTM F1996-06
薄膜开关电路系统银迁移的标准试验方法

Standard Test Method for Silver Migration for Membrane Switch Circuitry

被代替

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标准号

ASTM F1996-06

发布

2006年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM F1996-14

当前最新

ASTM F1996-14

 

 

适用范围

银迁移的影响是短路或绝缘电阻降低。这可以通过阴极和阳极导电迹线之间的染色或变色来证明。加速测试可以通过将电压增加到指定电压以上来完成。 （典型的起始点为 5Vdc 50mA）。
1.1 本测试方法用于确定薄膜开关在直流电压下对电路走线之间银迁移的敏感性。
1.2 当特殊的湿度和湿度条件下会发生银迁移。存在电能。

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