ASTM E986-04
扫描电子显微镜射束尺寸特征描述标准实施规程

Standard Practice for Scanning Electron Microscope Beam Size Characterization


ASTM E986-04 中,可能用到以下仪器

 

赛默飞(原FEI)Helios 5 DualBeam 双束扫描电镜

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北京欧波同光学技术有限公司

 

赛默飞(原FEI)Scios 2 DualBeam 透射电镜 TEM

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北京欧波同光学技术有限公司

 

Quattro-环境扫描场发射扫描电子显微镜

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北京欧波同光学技术有限公司

 

Helios 5 EXL DualBeam双束扫描电镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

场发射扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

JIB-4700F聚焦离子束双束(FIB)

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日本电子株式会社(JEOL)

 

触摸屏控制热场发射扫描电子镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

JSM-7500F冷场发射扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

EM科特(EmCrafts)CUBE系列桌面式台式扫描电镜

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圆派科学仪器(上海)有限公司

 

纳克微束高分辨场发射扫描电镜 FE-1050系列

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纳克微束(北京)有限公司

 

EM科特(EmCrafts)CUBE系列EM科特扫描电镜 应用于橡胶

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圆派科学仪器(上海)有限公司

 

标准号
ASTM E986-04
发布
2004年
发布单位
美国材料与试验协会
替代标准
ASTM E986-04(2010)
当前最新
ASTM E986-04(2017)
 
 
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ASTM E986-04 中可能用到的仪器设备


谁引用了ASTM E986-04 更多引用





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