ISO 24173:2009
微光束分析.用电子背散射衍射进行定向测量的指南
Microbeam analysis - Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction
2024-01
- 标准号
- ISO 24173:2009
- 发布
- 2009年
- 中文版
- GB/T 30703-2014 (等同采用的中文版本)
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 替代标准
- ISO 24173:2024
- 当前最新
- ISO 24173:2024
- 引用标准
- ISO/IEC 17025 ISO/IEC Guide 98-3
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最后一个例子，也许是用EBSD进行相鉴定的最简单的应用之一，就是直接区别铁的体心立方和面心立方，这在实践中也经常用到，而且用元素的化学分析方法是无法办到的，如钢中的铁素体和奥氏体。而且在相鉴定和取向成像图绘制的基础上，很容易地进行多相材料中相百分含量的计算。3.5 应变测量晶体的缺陷密度是影响背散射电子衍射花样中菊池线清晰程度的主要因素，菊池线的清晰程度随缺陷密度的增大而下降。...
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