SJ/T 11399-2009
半导体发光二极管芯片测试方法
Measurement methods for chips of light emitting diodes
SJT11399-2009, SJ11399-2009
- 标准号
- SJ/T 11399-2009
- 别名
- SJT11399-2009, SJ11399-2009
- 发布
- 2009年
- 发布单位
- 行业标准-电子
- 当前最新
- SJ/T 11399-2009
- 引用标准
- GB/T 11499-2001 GB/T 15651-1995 GB/T 5698-2001 SJ/T 11394-2009
- 适用范围
- 本标准规定了半导体发光二极管芯片的辐射度学、光度学、色度学、电学、热学参数以及电磁兼容性的测试方法。 本标准适用于可见光半导体发光二极管芯片。紫外光和红外光发光二极管芯片以及外延片的测试可参考执行。