ISO 16242:2011
表面化学分析.俄歇电子能谱术(AES)的记录和报告数据
Surface chemical analysis - Recording and reporting data in Auger electron spectroscopy (AES)
- 标准号
- ISO 16242:2011
- 发布
- 2011年
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 当前最新
- ISO 16242:2011
- 引用标准
- ISO 17973 ISO 17974 ISO 18115-1
- 本国际标准规定了分析人员使用俄歇电子能谱 (AES) 分析测试样本后报告的最低信息水平。 它包括要记录在分析记录上或分析记录中的信息。
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俄歇电子能谱仪
俄歇电子能谱仪（Auger Electron Spectroscopy，AES），作为一种最广泛使用的分析方法而显露头角。这种方法的优点是：在靠近表面5-20埃范围内化学分析的灵敏度高；数据分析速度快；能探测周期表上He以后的所有元素。虽然最初俄歇电子能谱单纯作为一种研究手段，但现在它已成为常规分析手段了。它可以用于许多领域，如半导体技术、冶金、催化、矿物加工和晶体生长等方面。...
俄歇电子能谱仪简介
俄歇电子能谱仪（AugerElectronSpectroscopy，AES），作为一种最广泛使用的分析方法而显露头角。这种方法的优点是：在靠近表面5-20埃范围内化学分析的灵敏度高；数据分析速度快；能探测周期表上He以后的所有元素。虽然最初俄歇电子能谱单纯作为一种研究手段，但现在它已成为常规分析手段了。它可以用于许多领域，如半导体技术、冶金、催化、矿物加工和晶体生长等方面。...