DS/EN 60749-12/Corr.1-2004

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency

DS/EN 60749-12/Corr.1-2004 发布历史

This part of IEC 60749 describes a test to determine the effect of variable frequency vibration, within the specified frequency range, on internal structural elements. This is a destructive test. It is normally appllicable to cavity-type packages. In general, this variable frequency vibration test is in conformity with IEC 60068-2-6 but, due to specific requirements of semiconductors, the clauses of this standard apply.

DS/EN 60749-12/Corr.1-2004由丹麦标准化协会 DK-DS 发布于 2004-02-12，并于 2003-12-23 实施。

DS/EN 60749-12/Corr.1-2004在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。

DS/EN 60749-12/Corr.1-2004的历代版本如下：

• 2004年02月12日 DS/EN 60749-12/Corr.1-2004

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标准号

DS/EN 60749-12/Corr.1-2004

发布日期

2004年02月12日

实施日期

2003年12月23日

废止日期

无

国际标准分类号

31.080.01

发布单位

DK-DS

适用范围

This part of IEC 60749 describes a test to determine the effect of variable frequency vibration, within the specified frequency range, on internal structural elements. This is a destructive test. It is normally appllicable to cavity-type packages. In general, this variable frequency vibration test is in conformity with IEC 60068-2-6 but, due to specific requirements of semiconductors, the clauses of this standard apply.