DS/EN 60749-12/Corr.1:2004
半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：振动，变频

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency

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标准号

DS/EN 60749-12/Corr.1:2004

发布

2004年

发布单位

丹麦标准化协会

当前最新

DS/EN 60749-12/Corr.1:2004

 

 

适用范围

IEC 60749 的这一部分描述了一项测试，以确定指定频率范围内的变频振动对内部结构元件的影响。这是一个破坏性的测试。它通常适用于空腔型封装。一般来说，这种变频振动测试符合 IEC 60068-2-6，但由于半导体的特殊要求，适用本标准的条款。

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