ASTM E2444-11e1
与反射薄膜上测量的相关术语
Terminology Relating to Measurements Taken on Thin, Reflecting Films
- 标准号
- ASTM E2444-11e1
- 发布
- 2011年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 替代标准
- ASTM E2444-11(2018)
- 当前最新
- ASTM E2444-11(2018)
- 引用标准
- ASTM E1823 ASTM E2244 ASTM E2245 ASTM E2246
- 适用范围
- 1.1 本标准包含与在反射薄膜上进行的测量有关的术语和定义，例如微机电系统 (MEMS) 材料中的薄膜。特别是，这些术语与第 2 节中的标准相关，该标准由疲劳和断裂委员会 E08 制定。疲劳和断裂试验相关术语E1823适用于本标准。
1.2 术语按字母顺序列出。