LAYERTEC的标准检验流程包括基板的干涉测量和涂层光学元件在波长范围为120纳米到20微米的分光光度计测量。在波长范围λ=120纳米至20微米的标准分光光度计测量,使用紫外-可见-近红外分光光度计,真空紫外和傅里叶变换红外分光光度计。通过腔环衰减时间测量法,可以确定R、T=99.5%至99.9999%的高反射率和透射率。这种方法是一种高精度的绝对测量方法。...
n21:样品的折射率n2与内反射元件的折射率n1的比值; λ1=λ/n1,为红外光在内反射元件中的波长。 操作规范 (1)光滑柔软的样品,如橡胶,薄膜,柔软基底上的涂料等等,使用微小的压力就可以良好接触,因此只需要样品的一小部分面积将就可以得到谱图。(2)对于粘性固体,半固体,糊状物,将它们放在内反射元件(IRE)晶体上,就可以得到良好的物理及光学接触。 ...
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