3、研究矿石标本中可能存在的干扰元素对待测元素分析谱线的谱线重叠情况,同时选择最佳校正方案校正矿石的基体效应和矿物效应对定量分析结果的影响,建立X射线荧光光谱微区分析定量鉴定岩石矿物模型。并用电子探针分析、化学分析等其它分析方法验证定量鉴定结果,进一步完善X射线荧光光谱微区定量分析技术。...
3、研究矿石标本中可能存在的干扰元素对待测元素分析谱线的谱线重叠情况,同时选择最佳校正方案校正矿石的基体效应和矿物效应对定量分析结果的影响,建立X射线荧光光谱微区分析定量鉴定岩石矿物模型。并用电子探针分析、化学分析等其它分析方法验证定量鉴定结果,进一步完善X射线荧光光谱微区定量分析技术。...
岩石薄片通常只能用于一般的岩相学观察,而不能用于矿物电子探针成分分析和反射光下不透明矿物组分的研究。图2-11 普通岩石薄片的纵剖面图应当注意的是,岩石薄片的磨制需使用金刚砂。无论所用的金刚砂有多细,矿片表面总会磨划有显微沟痕。因此,矿片表面并非绝对平滑。...
何为电子探针,有几种类型电子探针是一种分析仪器,可以用来分析薄片中矿物微区的化学组成。该仪器将高度聚焦的电子束聚焦在矿物上,激发组成矿物元素的特征X射线。用分光器或检波器测定荧光X射线的波长,并将其强度与标准样品对比,或根据不同强度校正直接计数出组分含量。电子探针可以对试样中微小区域(微米级)的化学组成进行定性或定量分析。可以进行点、线扫描(得到层成分分布信息)、面扫描分析(得到成分面分布图像)。...
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