BS ISO 16129:2012
表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Procedures for assessing the day-to-day performance of an X-ray photoelectron spectrometer
BS ISO 16129:2012 中，可能用到以下仪器
- 标准号
- BS ISO 16129:2012
- 发布
- 2012年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 替代标准
- BS ISO 16129:2018
- 当前最新
- BS ISO 16129:2018
BS ISO 16129:2012相似标准
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能谱仪EDS
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X射线光电子能谱分析的定义及原理
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xps原理有什么不同
（1）固体表面的激发与检测 X射线光电子能谱（XPS）：激发源为X射线，用X射线作用于样品表面，产生光电子。通过分析光电子的能量分布得到光电子能谱。用于研究样品表面组成和结构。又称为化学分析光电子能谱法（ESCA）。 紫外光电子能谱（UPS）：激发源为紫外光，只能激发原子的价电子，用于量子化学研究。 俄歇电子能谱(AES)：激发源为电子束，用于表面成分的快速分析。 ...
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（1）固体表面的激发与检测X射线光电子能谱（XPS）：激发源为X射线，用X射线作用于样品表面，产生光电子。通过分析光电子的能量分布得到光电子能谱。用于研究样品表面组成和结构。又称为化学分析光电子能谱法（ESCA）。紫外光电子能谱（UPS）：激发源为紫外光，只能激发原子的价电子，用于量子化学研究。俄歇电子能谱(AES)：激发源为电子束，用于表面成分的快速分析。...