本标准规定了用透射电子显微镜(TEM)对薄晶体试样的微米和亚微米尺寸区域进行选区电子衍射分析的方法。被测试样可以从各种金属或非金属材料的薄切片获得,也可以采用细微的粉末或萃取复型试样。应用本方法可分析的最小试样选区直径取决于显微镜物镜的球差系数,对于现代TEM,试样的最小选区直径一般可达到0.5 μm。当被分析试样区的直径小于0.5 μm时仍然可以参照本标准的分析方法,但是由于球差的影响,衍射谱上的部分信息有可能来源于由选区光阑限定的区域之外,在这种情况下,如条件允许,最好采用微(纳)衍射或者会聚束电子衍射方法。选区电子衍射方法的成功应用取决于对所获得的衍射谱指数标定正确与否,而不论试样的哪个晶带轴平行于入射电子束,因而,这样的分析往往需要借助试样的倾转和旋转装置。本标准适用于从晶体试样上获取SAED谱、标定衍射谱的指数以及校准电镜的衍射常数。
GB/T 18907-2013由国家质检总局 CN-GB 发布于 2013-07-19,并于 2014-03-01 实施。
GB/T 18907-2013 在中国标准分类中归属于: N32 放大镜与显微镜,在国际标准分类中归属于: 71.040.50 物理化学分析方法。
* 在 GB/T 18907-2013 发布之后有更新,请注意新发布标准的变化。
电子显微术开始于上世纪30年代,经过几十年的不断发展和完善,现在其主要方法包括选区电子衍射(SAED)、衍射衬度分析、汇聚束衍射(CBED)、高分辨分析(HREM)、微区成分分析(EDS、EELS)及Z衬度分析,同时还包括电子全息分析和电子结构分析等。电子显微术主要用于分析材料内部的微观结构和成分分析,现在已经成为材料、凝聚态物理、半导体电子技术、化学、生物、地质等多学科的非常重要的研究手段。 ...
选区电子衍射的分析 单晶电子衍射花样[5]可以直观地反映晶体二维倒易平面上阵点的排列,而且选区衍射和形貌观察在微区上具有对应性,因此选区电子衍射一般有以下几个方面的应用。 ...
随着扫描透射电子显微术(STEM)的发展,采用强烈聚焦的细小电子束照射样品上极其有限的区域,与视场光阑的方法相比,不但选区尺寸小,而且精度高。这就是所谓微衍射(选区小于100nm)和微微衍射(选区小于10nm),也有人把它们分别叫做μ衍射和μμ衍射。...
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