GB/T 5594.8-1985
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Determination of microstructure
- 标准号
- GB/T 5594.8-1985
- 发布日期
- 1985年11月27日
- 实施日期
- 1986年12月01日
- 废止日期
- 2016-01-01
- 中国标准分类号
- L32
- 国际标准分类号
- 31.030
- 发布单位
- CN-GB
- 代替标准
- GB/T 5594.8-2015
- 适用范围
- 本标准适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。 本标准只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。
GB/T 5594.8-1985系列标准
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