本标准适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。 本标准只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。
GB/T 5594.8-1985由国家质检总局 CN-GB 发布于 1985-11-27,并于 1986-12-01 实施,于 2016-01-01 废止。
GB/T 5594.8-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定 于 2015-05-15 变更为 GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法。
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