GB/T 14619-2013
厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
Alumina ceramic substrates for thick film integrated circuits
GBT14619-2013, GB14619-2013
GB/T 14619-2013 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- GB/T 14619-2013
- 别名
- GBT14619-2013
GB14619-2013 - 发布
- 2013年
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 14619-2013
- 引用标准
- GB/T 16534-2009 GB/T 1958 GB/T 2413 GB/T 2828.1 GB/T 2829 GB/T 5593 GB/T 5594.3 GB/T 5594.4 GB/T 5594.5 GB/T 5594.7 GB/T 5598 GB/T 6062 GB/T 6569 GB/T 6900 GB/T 9531.1-1988 GJB 1201.1-1991 GJB 548B-2005
- 被代替标准
- GB/T 14619-1993
- 本标准规定了厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的要求、测试方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本标准适用于厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的生产和采购,采用厚膜工艺的片式元件用氧化铝陶瓷基片(以下简称基片)也可参照使用。