GB/T 14620-2013
薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
Alumina ceramic substrates for thin film integrated circuits
GB/T 14620-2013 中，可能用到以下仪器
- 标准号
- GB/T 14620-2013
- 发布日期
- 2013年11月12日
- 实施日期
- 2014年04月15日
- 废止日期
- 无
- 中国标准分类号
- L57
- 国际标准分类号
- 31.030
- 发布单位
- CN-GB
- 引用标准
- GB/T 1958 GB/T 2413 GB/T 2828.1 GB/T 2829 GB/T 5593 GB/T 5594.3 GB/T 5594.4 GB/T 5594.5 GB/T 5594.7 GB/T 5598 GB/T 6062 GB/T 6900 GB/T 9531.1 GB/T 14619-2013 GB/T 16534-2009 GJB 548B-2005 GJB 1201.1-1991
- 被代替标准
- GB/T 14620-1993
- 适用范围
- 本标准规定了薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的要求、测试方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本标准适用于薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片(以下简称“基片”)的生产和采购,采用薄膜工艺的片式元件用氧化铝陶瓷基片也可参照使用。