SJ/T 11501-2015
碳化硅单晶晶型的测试方法

Test method for determining crystal type of monocrystalline silicon carbide

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标准号: SJ/T 11501-2015
发布日期: 2015年04月30日
实施日期: 2015年10月01日
废止日期: 无
中国标准分类号: H83
国际标准分类号: 29.045
发布单位: CN-SJ
代替标准: GOST 21139-1975

适用范围: 本标准规定了利用拉曼光谱测定碳化硅单晶结晶类型的方法。本标准适用于碳化硅单晶晶型的测定。

SJ/T 11501-2015 中可能用到的仪器设备

太赫兹光谱仪近红外光谱仪光栅光谱仪(单色仪) X荧光光谱/XRF（波长色散型）红外光谱仪拉曼光谱仪光纤光谱仪分子荧光光谱/荧光分光光度计其它光学测量仪扫描探针/原子力显微镜SPM/AFM 激光诱导击穿光谱LIBS 光学仪器组件 ICP光谱/MP-AES/ICP-AES 浓缩仪离心机激光雷达

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