SJ/T 11501-2015
碳化硅单晶晶型的测试方法

Test method for determining crystal type of monocrystalline silicon carbide

SJ/T 11501-2015 发布历史

本标准规定了利用拉曼光谱测定碳化硅单晶结晶类型的方法。本标准适用于碳化硅单晶晶型的测定。

SJ/T 11501-2015由行业标准-电子 CN-SJ 发布于 2015-04-30，并于 2015-10-01 实施。

SJ/T 11501-2015 在中国标准分类中归属于: H83 化合物半导体材料，在国际标准分类中归属于: 29.045 半导体材料。

SJ/T 11501-2015的历代版本如下：

• 2015年04月30日 SJ/T 11501-2015 碳化硅单晶晶型的测试方法

标准号

SJ/T 11501-2015

发布日期

2015年04月30日

实施日期

2015年10月01日

废止日期

无

中国标准分类号

H83

国际标准分类号

29.045

发布单位

CN-SJ

代替标准

GOST 21139-1975

适用范围

本标准规定了利用拉曼光谱测定碳化硅单晶结晶类型的方法。本标准适用于碳化硅单晶晶型的测定。

SJ/T 11501-2015 中可能用到的仪器设备