GB/T 32279-2015
硅片订货单格式输入规范

Specification for order entry format of silicon wafers

说明：

  • 此图仅显示与当前标准最近的5级引用；
  • 鼠标放置在图上可以看到标题编号；
  • 此图可以通过鼠标滚轮放大或者缩小；
  • 表示标准的节点，可以拖动；
  • 绿色表示标准：GB/T 32279-2015 ， 绿色、红色表示本平台存在此标准，您可以下载或者购买，灰色表示平台不存在此标准；
  • 箭头终点方向的标准引用了起点方向的标准。

 

 

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 GB/T 32279-2015 前三页，或者稍后再访问。

点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

 

标准号
GB/T 32279-2015
发布
2015年
发布单位
国家质检总局
当前最新
GB/T 32279-2015
 
 
引用标准
GB/T 11073 GB/T 12965 GB/T 13387 GB/T 13388 GB/T 14139 GB/T 14140 GB/T 14142 GB/T 14144 GB/T 14264 GB/T 14847 GB/T 1550 GB/T 1551 GB/T 1553 GB/T 1554 GB/T 1555 GB/T 1557 GB/T 1558 GB/T 19921 GB/T 4058 GB/T 6618 GB/T 6619 GB/T 6620 GB/T 6621 GB/T 6624
适用范围
本标准规定了硅片订货单的格式要求和使用。 本标准适用于硅单晶研磨片、硅单晶抛光片、硅单晶外延片、太阳能电池用硅单晶切割片、太阳能电池用多晶硅片的订货单格式，其他半导体材料的订货单可参照本标准执行。

GB/T 32279-2015相似标准

T/ZZB 2675-2022 TVS用硅单晶研磨片 T/ZZB 0648-2018 200 mm重掺磷直拉硅单晶抛光片 T/NXCL 017-2022 300 mm重掺磷直拉硅单晶抛光片 T/NXCL 016-2022 200 mm重掺锑直拉硅单晶抛光片 GB/T 26069-2010 硅退火片规范

GB/T 32279-2015系列标准

GB/T 32277-2015 硅的仪器中子活化分析测试方法 GB/T 32278-2015 碳化硅单晶片平整度测试方法 GB/T 32283-2015 窑炉上部用耐火材料抗气体腐蚀性试验方法 GB/T 32282-2015 氮化镓单晶位错密度的测量 阴极荧光显微镜法 GB/T 32281-2015 太阳能级硅片和硅料中氧、碳、硼和磷量的测定 二次离子质谱法 GB/T 32280-2022 硅片翘曲度和弯曲度的测试 自动非接触扫描法


Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证：京ICP证110310号