采用扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法进行射击残留物分析的标准指南 是非强制性国家标准,您可以免费下载预览页
;扫描电子显微术SEM☆分析原理:用电子技术检测高能电子束与样品作用时产生二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线等并放大成像 ☆谱图的表示方法:背散射象、二次电子象、吸收电流象、元素的线分布和面分布等 ☆提供的信息:断口形貌、表面显微结构、薄膜内部的显微结构、微区元素分析与定量元素分析等 原子吸收AAS☆原理:通过原子化器将待测试样原子化,待测原子吸收待测元素空心阴极灯的光,从而使用检测器检测到的能量变低...
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