高能电子束穿透试样时发生散射、吸收、干涉和衍射,使得在相平面形成衬度,显示出图象; 谱图的表示方法: 质厚衬度象、明场衍衬象、暗场衍衬象、晶格条纹象、和分子象; 提供的信息: 晶体形貌、分子量分布、微孔尺寸分布、多相结构和晶格与缺陷等; 18.扫描电子显微术SEM 分析原理: 用电子技术检测高能电子束与样品作用时产生二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线等并放大成象; 谱图的表示方法...
高能电子束穿透试样时发生散射、吸收、干涉和衍射,使得在相平面形成衬度,显示出图象; 谱图的表示方法: 质厚衬度象、明场衍衬象、暗场衍衬象、晶格条纹象、和分子象; 提供的信息: 晶体形貌、分子量分布、微孔尺寸分布、多相结构和晶格与缺陷等; 18.扫描电子显微术SEM 分析原理: 用电子技术检测高能电子束与样品作用时产生二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线等并放大成象; 谱图的表示方法...
缺点:不能有效区分来自颗粒或微孔的散射,且对于密集的散射体系,会发生颗粒散射之间的干涉效应,导致测量结果有所偏低。 6.X射线光电子能谱法(XPS) XPS法以X射线作为激发源,基于纳米材料表面被激发出来的电子所具有的特征能量分布(能谱)而对其表面元素进行分析,也称为化学分析光电子能谱(ESCA)。...
分析原理:样品在周期性变化的外力作用下产生的形变随温度的变化 谱图的表示方法:模量或tgδ随温度变化曲线 提供的信息:热转变温度模量和tgδ透射电子显微术 TEM 分析原理:高能电子束穿透试样时发生散射、吸收、干涉和衍射,使得在相平面形成衬度,显示出图象 谱图的表示方法:质厚衬度象、明场衍衬象、暗场衍衬象、晶格条纹象、和分子象 提供的信息:晶体形貌、分子量分布、微孔尺寸分布、多相结构和晶格与缺陷等扫描电子显微术...
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号