GB/T 14620-1993
薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

Alumina ceramic substrates for thin film integratedcircuits

GBT14620-1993, GB14620-1993

2014-04

GB/T 14620-1993 中,可能用到以下仪器

 

陶瓷材料介电常数介质损耗测试仪

陶瓷材料介电常数介质损耗测试仪

北京智德创新仪器设备有限公司

 

GB/T 14620-1993

标准号
GB/T 14620-1993
别名
GBT14620-1993
GB14620-1993
发布
1993年
发布单位
国家质检总局
替代标准
GB/T 14620-2013
当前最新
GB/T 14620-2013
 
 
本标准规定了薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的结构尺寸、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。 本标准适用于薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片(以下简称基片)。

GB/T 14620-1993相似标准


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