SEM/EDS 通常用于深度研究,例如,成因研究,这类研究需要更详细的数据信息,例如,颗粒的元素组成。图 5:3 种颗粒分析方法的性能对比:光学显微镜技术、扫描电子显微镜 (SEM),以及微计算机断层扫描技术(微型 CT)在颗粒检测方面,显微镜的光学分辨率是限制因素。光学系统本身无法分辨颗粒,因为它的尺寸低于分辨率阈值,所以无法识别颗粒的细节部分。...
沉降板经过七天暴露后,可以用一台光学显微镜进行评估。图 8 显示了 10 块沉降板的颗粒分析结果。图 8 的图表清楚地展示了测量位置的颗粒计数较高。通过不同部分进行额外分类,例如,形态或反光度,从而确保清楚辨别纤维和反光颗粒物。可能引起损坏的颗粒表征针对汽车制造业的很多产品部件,也存在诸多微粒污染相关的要求。根据部件的不同,有些颗粒可能是关键的,可能会引起损伤。...
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号