DIN ISO 15632:2015
微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规范(ISO 15632-2012)
Microbeam analysis - Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy-dispersive X-ray spectrometers for use in electron probe microanalysis (ISO 15632:2012)
- 标准号
- DIN ISO 15632:2015
- 发布
- 2015年
- 发布单位
- 德国标准化学会
- 替代标准
- DIN ISO 15632 E:2015-05
- 当前最新
- DIN ISO 15632:2022-09
- 引用标准
- ANSI/IEEE 759:1984 ASTM E1508-12 DIN EN ISO/IEC 17025:2005 DIN ISO 18115-1 DIN ISO 22309:2015 IEC 60759:1983 ISO 18115-1:2013 ISO 22309:2011 ISO 23833:2013 ISO/IEC 17025:2005
- 被代替标准
- DIN ISO 15632:2015-05
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