IEC TR 63258:2021
纳米技术 用于评估纳米级薄膜厚度的椭圆偏光应用指南
Nanotechnologies - A guideline for ellipsometry application to evaluate the thickness of nanoscale films
IEC TR 63258:2021 中，可能用到以下仪器
IEC TR 63258:2021相似标准
推荐
苏大张晓宏揭建胜&天大胡文平Materials Today：通道限制的弯液面自组装法实现晶圆级有机半导体单晶材料均匀地阵列化生长
采用涂布技术虽然很容易实现大规模的制备，但是得到的单晶阵列中晶体与晶体间的取向、形貌（包括尺寸、厚度等）都存在较大的差异，导致最终所获器件与器件间的性能相差很大，不利于集成器件的应用。...
Nature Nanotechnology：6月纳米前沿精选科研成果
并且，这种薄膜呈现出目前报道的薄膜材料中最高的本征椭圆度值（高达6.5 deg μm-1），通过测试峰强度和θ值与极性的曲线形态可知，其还呈现出超强的圆二色性。他们的研究结果证实了这种手性属性是源于大的平面磁性在层间的光学跃迁。进一步的研究证实，他们可以利用这种技术通过一层一层地堆叠的方式程序化调控原子级厚度的手性薄膜的手性性能，并且制备了三层厚度的具有结构可控的圆二色光谱石墨烯薄膜。...
可溯源的纳米级磁场测量（中）
用于微米和纳米级磁场测量的准确、可溯源测量能力【项目取得的进步和成果】来源：NPL项目介绍·技术进步该项目已开始开发、评估和验证基于扫描磁场显微镜、磁光指示膜（MOIF）显微镜和磁力显微镜（MFM）的计量方法，主要是开发和验证可溯源的校准方法模型和相关标准物质。...
偏振概论
一旦检偏器与偏振片垂直对齐，就将各向异性或双折射的样品放在样品台上。样品将偏振光旋转指定的量，该量与样品的厚度（以及光程距离）和样品的双折射成正比，然后再到达分析仪。分析仪仅透射经历了样品引起的相移的光，并继续阻挡来自光源的所有未受影响的光，这些光最初由偏振片偏振。如果已知样品的双折射，则可以将其用于确定样品的厚度。如果样品厚度已知，则可用于推断样品的双折射。...